Результаты исследований, полученных на новом оборудовании Лаборатории мезо- и наноструктурированных функциональных материалов Физико-технического института Крымского федерального университета имени В.И.Вернадского (ФТИ КФУ), были представлены на Международной конференции «Сканирующая Зондовая Микроскопия – 2017» (СЗМ — 2017), которая состоялась с 28 по 30 августа 2017 года в г. Екатеринбург в Уральском федеральном университете имени первого Президента России Б.Н. Ельцина (УрФУ). Конференция была посвящена широкому кругу вопросов, связанных с современным состоянием и перспективами развития методов Сканирующей Зондовой микроскопии (СЗМ) в таких областях науки, как физика, химия, материаловедение, биология, медицина.
В конференции приняли участие около 150 учёных из 8 стран и 24 городов России. Было представлено 14 приглашенных, 44 устных и 104 стендовых доклада. Спонсорами и участниками выставки современного оборудования для СЗМ выступили Российский фонд фундаментальных исследований, Taylor&Francis, NT-MDT Spectrum Instruments, Мелитэк, Промэнерголаб, OSTEC, OPTEC, INTERTECH Corporation, SITEC, Conetech и IMC. В программу конференции было включено также посещение лаборатории сегнетоэлектриков УрФУ и Уральского центра коллективного пользования «Современные нанотехнологии» (https://nanocenter.urfu.ru/en).
Современное развитие технологий выдвигает жесткие требования к материалам и часто одного измерения объемных свойств становится недостаточно. Это, в первую очередь, касается полупроводниковых приборов, солнечных элементов, жестких дисков, новых типов магнитной памяти, размеры которых уменьшаются год от года. В этих случаях локальное измерение свойств может помочь в повышении точности измерения объемных свойств. С помощью СЗМ можно одновременно измерять топографию поверхности и исследовать её магнитные и электрические свойства или локальные оптические свойства материалов с нанометровым разрешением. В области биологии и медицины СЗМ может давать информацию о морфологии отдельных клеток, находящихся в различных функциональных состояниях.
Подобные исследования ведутся в недавно созданной в ФТИ КФУ лаборатории мезо- и наноструктурированных функциональных материалов. Доклад, представленный зав. лабораторией Т.Михайловой, был посвящен применению атомно-силовой микроскопии (один из методов СЗМ) для контроля технологии синтеза многослойных наноструктур на основе висмут-замещенных ферритов-гранатов, какие используются при создании магнитооптических сенсоров. Самое активное участие в исследованиях приняла студентка магистратуры по специальности «Техническая физика» кафедры экспериментальной физики А.Крикун, которая в совершенстве освоила работу на довольно сложном приборе – сканирующем зондовом микроскопе Ntegra (производства фирмы NT-MDT).
А.Крикун, студентка магистратуры кафедры экспериментальной физики, за проведением измерений на СЗМ Ntegra.
Второй доклад по результатам совместной работы по исследованию доменной структуры и магнитной записи в высококоэрцитивных пленках ферритов-гранатов методами магнитно-силовой микроскопии был представлен на конференции сотрудниками одного из спонсоров конференции SITEC и Национального исследовательского университета «МИЭТ» Ю.Высоких и С.Краснобородько. Подобные пленки используются в качестве носителей термомагнитной записи и для создания реконфигурируемых магнитных атомных чипов. Образцы для всех представленных исследований были синтезированы коллективом сотрудников Научно-исследовательского центра функциональных материалов и нанотехнологий ФТИ КФУ.
Доклады вызвали интерес у коллег, что подтверждает высокий научный уровень разработок ФТИ. Цель участия в работе конференции – ознакомиться с самыми последними научными достижениями в области СЗМ и продемонстрировать достижения КФУ в области нанотехнологий была достигнута.
Материалы, прошедшие апробацию на конференции, будут изданы как регулярные статьи в международных рецензируемых журналах.
Сопредседатели и участники конференции СЗМ — 2017: Ю.Высоких, В.Шур, Т.Михайлова, В. Миронов, С.Краснобородько.
При подготовке статьи были использованы материалы: Пресс-службы КФУ
Результаты исследований, полученных на новом оборудовании Лаборатории мезо- и наноструктурированных функциональных материалов Физико-технического института Крымского федерального университета имени В.И.Вернадского (ФТИ КФУ), были представлены на Международной конференции «Сканирующая Зондовая Микроскопия – 2017» (СЗМ — 2017), которая состоялась с 28 по 30 августа 2017 года в г. Екатеринбург в Уральском федеральном университете имени первого Президента России Б.Н. Ельцина (УрФУ). Конференция была посвящена широкому кругу вопросов, связанных с современным состоянием и перспективами развития методов Сканирующей Зондовой микроскопии (СЗМ) в таких областях науки, как физика, химия, материаловедение, биология, медицина.